關(guān)于場發(fā)射掃描電子顯微鏡開放試運行的通知

2016-03-04      】

  通過2015年修購專項資助,我所新購置的場發(fā)射掃描電子顯微鏡目前已經(jīng)安裝調(diào)試完畢,開始試運行,可以通過儀器設備共享管理平臺預約試用。

  該電鏡為日立SU8010高分辨冷場發(fā)射掃描電子顯微鏡,配有能譜儀、離子濺射儀、冷凍干燥儀等??筛叻直媛视^察樣品表面超微結(jié)構(gòu),可進行樣品微區(qū)成分分析、元素定量/定性分析、快速多元素面掃描和線掃描分布測量等。

  儀器技術(shù)參數(shù):

  分辨率:15kV,1.0 nm ;1KV,1.3 nm

  加速電壓:0.1 - 30kV,0.1kV/步

  放大倍率:×20 - ×800,000

  探測器:具有高位/低位二次電子探測器,高位探測器可選擇接受二次電子像或背散射像,并可以任意比例混合二次電子和背散射電子。

  圖像儲存像素:最大5120×3480像素

  歡迎各位科研人員試用,如需使用或進行相關(guān)咨詢請與儀器管理人員聯(lián)系。

  聯(lián)系人: 李春勇 13723898432

  彭 燦 15873267926 

公共技術(shù)服務中心

2016-3-4   

場發(fā)射掃描電子顯微鏡

水稻葉片

水稻葉片

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